Das Polarisationsmikroskop erlaubt eine Abbildung von Strukturen mit bis zu 40-facher Vergrößerung im Durchlicht als auch im Auflicht. Eine  Analyse im Fluoreszenzmodus ist ebenfalls möglich. Es stehen verschiedene Farbfilter zur Analyse unterschiedlicher Fluoreszenz-Wellenlängen zur Verfügung.

Mit dem Polarisationsmikroskop können sowohl Dünnschliffe im Durchlicht, auf ihre mineralogische Zusammensetzung analysiert werden (Bsp. AKR-Untersuchung), als auch Dickschliffe bzw. nicht angeschliffene Probekörper in ihrer Oberflächenstruktur betrachtet werden.